鍵合核心作用:通過(guò)物理/化學(xué)方法將晶圓結(jié)合,形成異質(zhì)復(fù)合結(jié)構(gòu)。分類依據(jù)多樣:
分類維度 | 技術(shù)類型 |
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目標(biāo)晶圓類型 | 晶圓-晶圓鍵合(W2W)、芯片-晶圓鍵合(D2W) |
鍵合持久性 | 臨時(shí)鍵合(可分離)、永久鍵合 |
界面夾層 | 直接鍵合、間接鍵合、混合鍵合(Hybrid Bonding) |
技術(shù)代際 | 傳統(tǒng):引線鍵合(Wire Bonding)先進(jìn):倒裝鍵合(Flip Chip)、混合鍵合 |
核心原理:通過(guò)金屬引線連接芯片與基板,實(shí)現(xiàn)電氣互聯(lián)。技術(shù)分支:
熱壓鍵合:金/銅絲熔球壓焊,需高溫(300-500℃),工藝簡(jiǎn)單但易氧化。
超聲鍵合:鋁絲超聲波塑變連接,室溫操作但方向敏感。
熱超聲鍵合:加熱+超聲振動(dòng),效率高且適用廣(金/銅絲)。
設(shè)備格局:
2024年中國(guó)進(jìn)口市場(chǎng)約6.18億美元(鋁線鍵合機(jī)占10-15%,單價(jià)25萬(wàn)美元;金銅線占85-90%,單價(jià)5-6萬(wàn)美元) 。
海外壟斷:K&S與ASMPT市占率超80%,鋁線設(shè)備主導(dǎo)汽車電子。
高傳輸速率、多芯片堆疊、微型化(移動(dòng)/穿戴設(shè)備需求)。
技術(shù) | 凸點(diǎn)間距范圍 | I/O密度 | 核心優(yōu)勢(shì) | 應(yīng)用場(chǎng)景 |
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倒裝鍵合(FC) | 40-50μm | 中等 | 全芯片植球,路徑短 | CPU/GPU/DRAM封裝 |
熱壓鍵合(TCB) | 10-40μm | 高 | 局部加熱,抗翹曲 | HBM3多層堆疊 |
混合鍵合(HB) | <10μm | 超高 | 無(wú)凸點(diǎn),銅直連,能耗降70% | 3D NAND/HBM4 |
注:混合鍵合精度達(dá)0.1-0.5μm,能量/bit僅0.05pJ,比倒裝鍵合提升400倍I/O密度。
規(guī)模:2023年全球市場(chǎng)1.04億美元,2030年預(yù)計(jì)2.65億美元(CAGR 14.5%)。
競(jìng)爭(zhēng)格局:ASMPT、K&S、BESI等海外五巨頭壟斷**88%**份額,國(guó)產(chǎn)化加速(華卓精科等)。
設(shè)備創(chuàng)新:ASMPT FIREBIRD系列支持2.5D/3D封裝,已交付超250臺(tái)。
流程三步法:
預(yù)處理:晶圓CMP拋光+活化清洗(粗糙度<0.5nm)。
預(yù)對(duì)準(zhǔn)鍵合:室溫下介質(zhì)層(SiO?)熔融橋連,銅觸點(diǎn)物理貼合。
熱退火:促進(jìn)Cu互擴(kuò)散,形成永久鍵合。
技術(shù)難點(diǎn):
潔凈度要求:需ISO 1級(jí)無(wú)塵室(傳統(tǒng)封裝僅需ISO 3級(jí))。
精度控制:橫向?qū)?zhǔn)誤差<50nm,銅凹陷(dishing)需納米級(jí)管控。
應(yīng)用背景:晶圓減薄至<10μm時(shí)易翹曲碎裂,需載板提供機(jī)械支撐。
工藝類型:
方法 | 原理 | 優(yōu)勢(shì) | 局限 |
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機(jī)械剝離 | 物理撕離載板 | 低成本 | 高破片率 |
濕化學(xué)溶解 | 溶劑溶解鍵合膠 | 低溫操作 | 耗時(shí)(>10小時(shí)) |
UV激光解鍵合 | 激光汽化光敏材料 | 無(wú)應(yīng)力,精度高 | 設(shè)備成本高 |
設(shè)備壁壘:多材料兼容性、熱應(yīng)力控制、對(duì)準(zhǔn)精度(<50nm)。